Armin DELONG
„Otec elektronové mikroskopie v České republice“ Armin Delong (1925 – 2017).
Od roku 1961 byl téměř 30 let ředitelem Ústavu přístrojové techniky Československé akademie věd (ČSAV) v Brně, dlouhá léta pracoval v Laboratoři elektronové optiky ČSAV. Jeho jméno má v současnosti firma Delong Instruments, sídlící v Brně, kterou založil se svými bývalými studenty.
![](http://www.ciexpo.cz/wp-content/uploads/2018/04/Delong-FO01154665-900x0-c-default.jpeg)
Armin Delong; ČTK
OTEC ELEKTRONOVÉ
MIKROSKOPIE
![](http://www.cie2.stage2.goodshape.cz/wp-content/uploads/2018/03/FO01154672.jpeg)
V České republice se vyrábějí některé produkty na světové úrovni. Mezi takové patří zejména elektronové mikroskopy. Zakladatelem elektronové mikroskopie v našich zemích je Ústav přístrojové techniky v Brně. Ústav byl založen v roce 1957 jako instituce zajišťující přístrojové vybavení pro další ústavy Akademie věd, a to právě především v oblasti elektronové optiky a mikroskopie. Zásluhu na tom má světově proslulý a uznávaný vědec profesor Armin Delong. Konstrukci elektronových mikroskopů se začal věnovat v 50. letech 20. století.
Za prototyp stolního elektronového mikroskopu BS 242 dostal na Světové výstavě v Bruselu EXPO v roce 1958 zlatou medailí. Výhodou bylo, že elektronový mikroskop byl tak malý, že se vešel na stůl, kompaktní, jednoduše přenositelný a měl snadné, intuitivní ovládání.
![](http://www.cie2.stage2.goodshape.cz/wp-content/uploads/2018/03/delong-1@3x.png)
Armin Delong měl zájem o elektroniku už na základní škole. V 10 letech dostal elektrickou stavebnici a ta ho okouzlila. „Za chvíli jsem ze součástek uměl udělat i telefon. Později jsem stavěl primitivní rádia,“ vzpomínal Armin.
Elektronová
mikroskopie
Vedle zobrazovacích metod světelné mikroskopie (např. inverzní, polarizační, interferenční, fluorescenční a UV nebo IČ mikroskopie) se dá říci, že právě elektronová mikroskopie patří mezi nejvšestrannější metodu pro pohled do mikrosvěta. Využívá se v rozmanitých oblastech vědy: od materiálového výzkumu po biologii.
Poskytuje informaci o mikrostruktuře, chemickém složení, krystalografické orientaci a dalších vlastnostech zkoumaných vzorků. Pozorovaný objekt lze zvětšit až milionkrát a vidět tak detaily velikosti atomu. Světlo je oproti elektronům příliš hrubým nástrojem na rozlišení nanoobjektů – mikroskop založený na světle totiž dosáhne zvětšení nanejvýš 1500×.
Rastrovací
mikroskopie
Rastrovací elektronový mikroskop zkoumá vzorek tak, že jej „ohmatává“ bod po bodu tenkým svazkem elektronů, až do chvíle, kdy postupně složí mozaiku celého obrazu. Informace o vzorku získáváme díky interakci svazku elektronů s látkou. U běžných elektronových mikroskopů je svazek elektronů urychlen na vysokou energii, brněnský tým ale vyvinul metodu pozorování pomocí velmi pomalých elektronů. Jejich odlišný mechanismus působení v látce dovoluje pozorovat neobvyklé jevy a zviditelnit jinak problematické detaily.
![Rastrovací mikroskop UHV SLEEM-II s pomalými elektrony pro studium atomově čistých povrchů v ultravysokém vakuu.](http://www.cie2.stage2.goodshape.cz/wp-content/uploads/2018/03/fig2.tif_1_.jpg)
Magellan
Pracovníci z Ústavu přístrojové techniky AV ČR se podíleli na vývoji rastrovacího elektronového mikroskopu Magellan, který vyrábí firma FEI Czech Republic, s.r.o. a který dosáhl světového prvenství v rozlišení na velmi nízkých energiích.
![](http://www.cie2.stage2.goodshape.cz/wp-content/uploads/2018/03/Rectangle-2963.jpg)